Prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc.
Vysoké učení technické v Brně
Prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc.
Vysoké učení technické v Brně
sikola@fme.vutbr.cz
Telefon
541 142 707
Obor vědeckovýzkumné činnosti
Fyzika povrchů a tenkých vrstev, nanotechnologie
Pracoviště
Fakulta strojního inženýrství, Ústav fyzikálního inženýrství, Odbor fyziky pevných látek a povrchů – vedoucí odboru
- CEITEC VUT - zástupce ředitele, koordinátor výzkumného programu Pokročilé nanotechnologie a mikrotechnologie, vedoucí výzkumné skupiny Příprava a charakterizace nanostruktur.
- Člen výboru České vakuové společnosti. Člen Americké vakuové společnosti.
- Zastupující člen výboru Mezinárodní unie vakuových věd technologií a aplikací (IUVSTA).
- Member of the board of the Czech Nanoteam.
- Syntéza GaN epitaxních vrstev, VUT a Arizona State University (1999-2001).
- Užití STM a STS pro studium atomárních povrchových struktur, VUT a Vienna University of Technology (2001-2002).
- Koordinátor dvou mezinárodních projektů TEMPUS, projekt č. JEP-02559-91 a JEN -02559 CZ v oblasti pokročilých materiálových technologií (1991 - 94, 1995 – 96).
- Řešitel mezinárodního projektu COPERNICUS: Development of In-situ Monitoring Technologies for the Control of Advanced Surface Processing System, projekt COPERNICUS, č. CIPA - CT94 - 0224 (1995 - 97).
- Řešitel pěti mezinárodních projektů Kontakt: Synthesis of GaN films by low energy ion beams (VUT – Arizona State University, 1999 – 2001), Application of STM in a study of atomic surface structures (VUT – Technische Universität Wien, 2001 – 2002), A study of the formation of very first layers of thin films by STM and STS (VUT, Johannes Kepler Universität Linz, 2003 - 2004), A study of the formation of very first layers of thin films by STM and STS (BUT, Vienna University of Technology, 2004 – 2005), TOF-LEIS in analysis of ultrathin films” (VUT, Johannes Kepler Universität Linz, 2005 – 2006.
- PROCHÁZKA, P.; MACH, J.; BISCHOFF, D.; LIŠKOVÁ, Z.; DVOŘÁK, P.; VAŇATKA, M.; SIMONET, P.; VARLET, A.; HEMZAL, D.; PETRENEC, M.; KALINA, L.; BARTOŠÍK, M.; ENSSLIN, K.; VARGA, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Ultrasmooth metallic foils for growth of high quality graphene by chemical vapor deposition. NANOTECHNOLOGY, 2014, roč. 25, č. 18,s. 185601- 1 (185601-8 s.)ISSN: 0957- 4484.
- KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Real- Time Observation of Collector Droplet Oscillations during Growth of Straight Nanowires. NANO LETTERS, 2014, roč. 14, č. 2, s. 1756-1761. ISSN: 1530- 6984.
- BŘÍNEK, L.; DVOŘÁK, P.; NEUMAN, T.; DUB, P.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Aplikace rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli pro plasmoniku. Jemná mechanika a optika, 2013, roč. 58, č. 6, s. 169-171. ISSN: 0447- 6441.
sikola@fme.vutbr.cz
Telefon
541 142 707
Obor vědeckovýzkumné činnosti
Fyzika povrchů a tenkých vrstev, nanotechnologie
Pracoviště
Fakulta strojního inženýrství, Ústav fyzikálního inženýrství, Odbor fyziky pevných látek a povrchů – vedoucí odboru
- CEITEC VUT - zástupce ředitele, koordinátor výzkumného programu Pokročilé nanotechnologie a mikrotechnologie, vedoucí výzkumné skupiny Příprava a charakterizace nanostruktur.
- Člen výboru České vakuové společnosti. Člen Americké vakuové společnosti.
- Zastupující člen výboru Mezinárodní unie vakuových věd technologií a aplikací (IUVSTA).
- Member of the board of the Czech Nanoteam.
- Syntéza GaN epitaxních vrstev, VUT a Arizona State University (1999-2001).
- Užití STM a STS pro studium atomárních povrchových struktur, VUT a Vienna University of Technology (2001-2002).
- Koordinátor dvou mezinárodních projektů TEMPUS, projekt č. JEP-02559-91 a JEN -02559 CZ v oblasti pokročilých materiálových technologií (1991 - 94, 1995 – 96).
- Řešitel mezinárodního projektu COPERNICUS: Development of In-situ Monitoring Technologies for the Control of Advanced Surface Processing System, projekt COPERNICUS, č. CIPA - CT94 - 0224 (1995 - 97).
- Řešitel pěti mezinárodních projektů Kontakt: Synthesis of GaN films by low energy ion beams (VUT – Arizona State University, 1999 – 2001), Application of STM in a study of atomic surface structures (VUT – Technische Universität Wien, 2001 – 2002), A study of the formation of very first layers of thin films by STM and STS (VUT, Johannes Kepler Universität Linz, 2003 - 2004), A study of the formation of very first layers of thin films by STM and STS (BUT, Vienna University of Technology, 2004 – 2005), TOF-LEIS in analysis of ultrathin films” (VUT, Johannes Kepler Universität Linz, 2005 – 2006.
- PROCHÁZKA, P.; MACH, J.; BISCHOFF, D.; LIŠKOVÁ, Z.; DVOŘÁK, P.; VAŇATKA, M.; SIMONET, P.; VARLET, A.; HEMZAL, D.; PETRENEC, M.; KALINA, L.; BARTOŠÍK, M.; ENSSLIN, K.; VARGA, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Ultrasmooth metallic foils for growth of high quality graphene by chemical vapor deposition. NANOTECHNOLOGY, 2014, roč. 25, č. 18,s. 185601- 1 (185601-8 s.)ISSN: 0957- 4484.
- KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Real- Time Observation of Collector Droplet Oscillations during Growth of Straight Nanowires. NANO LETTERS, 2014, roč. 14, č. 2, s. 1756-1761. ISSN: 1530- 6984.
- BŘÍNEK, L.; DVOŘÁK, P.; NEUMAN, T.; DUB, P.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Aplikace rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli pro plasmoniku. Jemná mechanika a optika, 2013, roč. 58, č. 6, s. 169-171. ISSN: 0447- 6441.
